產(chǎn)品概述

本產(chǎn)品是一款專為14dB模塊測試頻率3GHz射頻模塊設(shè)計的77Pin測試座，廣泛應(yīng)用于射頻模塊的研發(fā)、生產(chǎn)測試及可靠性驗證環(huán)節(jié)。該測試座采用高性能射頻材料與精密機械結(jié)構(gòu)，確保在3GHz工作頻率下信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性和低損耗特性，滿足高精度射頻測試需求。

主要特性

• 高頻性能：支持高達(dá)3GHz的測試頻率，插入損耗低，回波損耗優(yōu)異，保證信號完整性。
• 77Pin設(shè)計：精密排列的77個觸點，兼容標(biāo)準(zhǔn)射頻模塊引腳定義，接觸可靠，壽命長。
• 14dB模塊適配：針對14dB增益模塊優(yōu)化阻抗匹配與屏蔽設(shè)計，減少信號干擾。
• 耐久性強：觸點采用優(yōu)質(zhì)鈹銅合金，鍍金處理，插拔壽命可達(dá)10萬次以上。
• 操作便捷：采用翻蓋或按壓式鎖緊結(jié)構(gòu)，支持快速裝夾，提高測試效率。

技術(shù)參數(shù)

| 項目 | 規(guī)格 |
|------|------|
| 測試頻率 | DC ~ 3GHz |
| 特性阻抗 | 50Ω |
| 駐波比（VSWR） | ≤1.5:1 @3GHz |
| 插入損耗 | ≤0.5dB @3GHz |
| 觸點數(shù)量 | 77Pin |
| 接觸電阻 | ≤20mΩ |
| 絕緣電阻 | ≥1000MΩ |
| 耐壓 | 500V AC |
| 工作溫度 | -40℃ ~ +85℃ |
| 材料 | 鈹銅合金觸點，金鍍層；絕緣體為PEEK或PTFE |

應(yīng)用領(lǐng)域

該測試座適用于14dB射頻模塊的批量生產(chǎn)測試、老化測試、研發(fā)調(diào)試以及品質(zhì)抽檢等場景，尤其適合無線通信、基站射頻單元、雷達(dá)模塊等對信號質(zhì)量要求嚴(yán)苛的場合。

使用說明

1. 將測試座固定于測試臺面，確保接地良好。
2. 根據(jù)模塊引腳方向，將射頻模塊正確放入測試座中，77Pin對齊。
3. 鎖緊測試座（翻蓋或旋鈕），確保各觸點充分接觸。
4. 連接射頻測試儀器至測試座端口，進(jìn)行3GHz頻率下的性能測試。
5. 測試完成后，松開鎖緊機構(gòu)，取出模塊。

注意事項

• 請勿超過額定頻率和功率使用，以免損壞測試座或模塊。
• 定期清潔觸點，避免灰塵或氧化物影響接觸性能。
• 避免劇烈沖擊或跌落，防止精密結(jié)構(gòu)變形。
• 存儲環(huán)境應(yīng)干燥、無腐蝕性氣體，溫度范圍-20℃ ~ +60℃。

訂貨信息

產(chǎn)品型號：TS-77R3G-14dB
如需定制不同頻率、引腳數(shù)或接口類型，請聯(lián)系技術(shù)支持。

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